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Zhuzhou Sanxin Cemented Carbide Manufacturing Co., Ltd

Agulha de carboneto de tungstênio niquelada para teste de semicondutores

Detalhes do produto:
Lugar de origem: zhuzhou, China
Marca: Sanxin
Certificação: ISO9001
Número do modelo: SX1407
Condições de Pagamento e Envio:
Quantidade de ordem mínima: 2
Tempo de entrega: 5-25 dias
Termos de pagamento: L/C, T/T, Western Union
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Informação detalhada

Nome do item: agulha do tungstênio caracteres: Resistência ao desgaste, anticorrosivo
Dureza: HRA 90-92 Vantagem: Alta resistência ao desgaste, longa vida
Forma: Pino Categoria do carboneto: Yg6, Yg8, Yg10, etc.
Tratamento de superfície: Bem moído e polido Serviço: ODM,OEM,OEM&ODM
Grau de qualidade: K30, YG10X, K40, P10... Principais características: Resistente ao desgaste
Tolerância: h6
Destacar:

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Descrição de produto

Agulha de tungstênio de carboneto personalizada niquelada pioneira condutiva de grau micron


A sonda de precisão com camada de níquel eletrodepositada, com resistência de contato ultrabaixa de 0,02Ω e revestimento de dureza HV500, supera os pontos críticos de desgaste e oxidação das agulhas banhadas a ouro comuns e atinge a transmissão de atenuação zero de sinais de nível microampere nos campos de teste de semicondutores e eletrodos médicos.


Matriz de especificações:


Parâmetro Valor padrão Precisão final Padrão de teste
Faixa de diâmetro Φ0,1-2,0mm Φ0,05mm (Microneedle Medidor de diâmetro a laser
Espessura do revestimento 5±0,5μm ±0,2μm Espectrômetro XRF
Retidão ≤0,003mm/30mm 0,001mm/30mm VDI 2617
Dureza do revestimento HV500±50 Nanoindentador totalmente testado ISO 14577
Resistência de contato 0,02Ω±0,005Ω Medição de quatro fios IEC 60512

Observação: Os dados acima são apenas para referência, entre em contato conosco para personalização.


Vantagens de desempenho:


- Resistência de contato: 0,02-0,05Ω (90% menor que pinos de aço inoxidável)
- Vida útil: >1.000.000 ciclos de inserção/remoção
- Resistência à corrosão: Aprovado no teste de névoa salina de 96h


Aplicação:


Teste de semicondutores
- Cartão de sonda em nível de wafer (matriz de microneedle de 0,1 mm Φ)
- Teste de pacote BGA (continuidade de passo de 50μm)
- Teste de dispositivo semicondutor GaN de terceira geração (resistência a alta temperatura de até 400°C)


Eletrônica médica
- Eletrodos neurais implantáveis (biocompatibilidade certificada)
- Sondas de monitor de glicose no sangue (resistentes à corrosão por anticorpos)
- Contatos de endoscópio (>500 ciclos de esterilização)


Indústria de precisão
- Teste de sonda voadora PCB (continuidade de 0,3 mm)
- Sondas de bateria de nova energia (resistentes à corrosão por eletrólitos)
- Micro conectores (força de inserção e remoção ≤0,5N)


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